search query: @keyword LCD-näyttö / total: 1
reference: 1 / 1
« previous | next »
Author: | Pellinen, Sauli |
Title: | LCD- ja OLED -näyttöjen häiriöimmuniteetin ja käynnistysvirran mittaaminen |
Mobile LCD displays, elctrical testing | |
Publication type: | Master's thesis |
Publication year: | 2010 |
Pages: | 80 Language: fin |
Department/School: | Elektroniikan laitos |
Main subject: | Sovellettu elektroniikka (S-66) |
Supervisor: | Sepponen, Raimo |
Instructor: | Raatikainen, Pekka |
OEVS: | Electronic archive copy is available via Aalto Thesis Database.
Instructions Reading digital theses in the closed network of the Aalto University Harald Herlin Learning CentreIn the closed network of Learning Centre you can read digital and digitized theses not available in the open network. The Learning Centre contact details and opening hours: https://learningcentre.aalto.fi/en/harald-herlin-learning-centre/ You can read theses on the Learning Centre customer computers, which are available on all floors.
Logging on to the customer computers
Opening a thesis
Reading the thesis
Printing the thesis
|
Location: | P1 Ark Aalto 1279 | Archive |
Keywords: | LCD display OLED display electrical test optical test emc-test mechanical test environmental test ripple immunity inrush current start up nestekide LCD-näyttö OLED-nayttö käynnistysvirta rippeli sähköinen testaus tehokulutustestaus komentotestaus ajoitustestaus liitäntä protokolla |
Abstract (fin): | Pienten näyttöjen käyttö on lisääntynyt kaikilla kulutus- ja ammattielektroniikan alueilla, joissa tarvitaan selkeää ja havainnollista käyttäjäliittymää. Vuosittain tehdään yli miljardi käsipuhelinta ja niiden hinnasta nestekide- eli LCD-näyttöjen osuus on merkittävä. Myös uudempi OLED-näyttö on alkanut yleistyä. Tuotekehityksessä näytöille tehdään suuri määrä testauksia ennen niiden hyväksymistä massatuotantoon. Testausalueista mainittakoon optiset-, mekaaniset-, ympäristö- ja sähköiset testit. Suunnitteluvaiheen kattavalla testauksella voidaan vähentää korjauskierroksia ja parantaa luotettavuutta. Havaittujen vikojen kustannus kasvaa eksponentiaalisesti, mitä myöhemmässä tuotekehityksen vaiheessa virhe havaitaan. Pahin tilanne on ongelman havaitseminen lopputuotteessa vasta asiakkaalla. Tässä työssä on tutkittu tarkemmin sähköisen testauksen kahta osa-aluetta, näyttöjen matalataajuisten syöttöjännitteiden häiriöiden sietoa ja näyttöjen ottamien käynnistysvirtojen mittausta. Mittausmenetelmiä ja mittalaitteita on kehitetty tutkimusten perusteella omien ja toimittajien laboratorioiden käyttöön. Käyttämällä samanlaisia menetelmiä ja laitteita saadaan eri laboratorioiden mittaustulokset vertailukelpoisiksi. Työssä tehdyissä mittauksissa havaittiin että, syöttöjännitehäiriöiden näytöille aiheuttamat kuvan häiriöt olivat yleisiä ja häiriytyvyys oli yleisempää taajuuksille, jotka ovat lähellä näytön sisäisiä toimintataajuuksia. Monet näytöt eivät täyttäneet spesifikaatioita, mutta puhelimissa ne toimivat moitteetta. Näyttöjen käynnistysvirtojen riippuvuus jännitteiden nousujärjestyksestä ei yleensä ole ongelma, koska jännitesyötöissä on virtarajoitukset. Käynnistysvirrat ovat eräänlainen näyttötyypin sormenjälki ja niiden merkitystä tutkitaan lisää. Näytön siirtyminen toimintatilasta toiseen voi aiheuttaa suuren virtasysäyksen. Esimerkiksi lepotilasta aktiiviseen tilaan siirtyminen käynnistää näytön sisäiset jännitemuuntimet ja liian nopea käynnistys aiheuttaa suuria virtapiikkejä. |
ED: | 2010-09-06 |
INSSI record number: 40422
+ add basket
« previous | next »
INSSI