search query: @keyword tilastollinen kritisointi / total: 1
reference: 1 / 1
« previous | next »
Author: | Seppälä, Veera Inkeri |
Title: | Improving the Utilization of Statistical Failure Models in Component Level Testing |
Tilastollisten vikamallien käytön kehittäminen komponenttien testauksessa | |
Publication type: | Master's thesis |
Publication year: | 2016 |
Pages: | 72+9 Language: eng |
Department/School: | Sähkötekniikan korkeakoulu |
Main subject: | Elektroniikka ja sovellukset (S3007) |
Supervisor: | Paulasto-Kröckel, Mervi |
Instructor: | Kärkäs, Reijo |
Electronic version URL: | http://urn.fi/URN:NBN:fi:aalto-201606172445 |
Location: | P1 Ark Aalto 4262 | Archive |
Keywords: | PAT MEMS statistical screening testing tilastollinen kritisointi testaus |
ED: | 2016-07-17 |
INSSI record number: 53877
+ add basket
« previous | next »
INSSI