search query: @keyword algoritmit / total: 11
reference: 7 / 11
Author: | Järvinen, Juho |
Title: | Semiconductor memories and testing methods in telecommunications |
Puolijohdemuistit ja niiden käyttö tietoliikenteessä | |
Publication type: | Master's thesis |
Publication year: | 2007 |
Pages: | 84 Language: eng |
Department/School: | Sähkö- ja tietoliikennetekniikan osasto |
Main subject: | Signaalinkäsittelytekniikka (S-88) |
Supervisor: | Skyttä, Jorma |
Instructor: | Räty, Esko |
OEVS: | Electronic archive copy is available via Aalto Thesis Database.
Instructions Reading digital theses in the closed network of the Aalto University Harald Herlin Learning CentreIn the closed network of Learning Centre you can read digital and digitized theses not available in the open network. The Learning Centre contact details and opening hours: https://learningcentre.aalto.fi/en/harald-herlin-learning-centre/ You can read theses on the Learning Centre customer computers, which are available on all floors.
Logging on to the customer computers
Opening a thesis
Reading the thesis
Printing the thesis
|
Location: | P1 Ark S80 | Archive |
Keywords: | memory testing pattern fault reliability FPGA BIST BISR muistit testaus algoritmit luotettavuus FPGA BIST BISR |
Abstract (fin): | Muistiteknologiat kehittyvät koko ajan, ja kuten muiden puolijohdetuotteiden kanssa, Mooren lain mukana pysyminen on ollut päätavoite viime vuosina. Tämän seurauksen, bittien määrä muistipiireissä kasvaa vuosi vuodelta, ja insinöörit joutuvat keksimään uusia keinoja välttääkseen ongelmat, joita syntyy viivanleveyden pienentyessä. Muistien testaus on tärkeä osa valmistusprosessia, mutta pelkkä valmistusvaiheessa tapahtuva testaus ei silti ole aina välttämättä riittävää. Valmistuksessa aiheutuneet virheet saatetaan huomata välittömästi tai jälkeenpäin, kun muistipiirit ovat joutuneet rasituksen alle. "Hard-error", eli piirissä oleva pysyvä vika, voi aiheuttaa suuria ongelmia; varsinkin jos se ilmenee vasta muistipiirin asennuksenjälkeen. Vikaantuneen muistin paikallistaminen voi olla vaikeaa, jos siihen tarkoitettuja työkaluja ei ole järjestelmässä valmiina. Sisäänrakennettu itsensä testaus (BIST) ja sisäänrakennettu itsensä korjaavuus (BISR) ovat rakenteita, joita yleensä käytetään integroitujen piirien sisäisten muistien testaamiseen ja korjaamiseen. Integroidun piirin muistin vikaantuminen voi tehdä koko piiristä hyödyttömän, jos vikaa ei voida korjata. Tässä työssä näitä rakenteita käytetään korvautuvuuden (redundanssi) lisäämiseen ulkoisille muisteille. Lukijalle selvitetään yleisimmät ja kehittyvät muistiteknologiat, muistivikatyypit, yleisimmät testausalgoritmit muistivikojen selvittämiseen ja tarvittavat työkalut ulkoisten muistien vikojen paikallistamiseen ja korjaamiseen Tellabs 8600 järjestelmässä. |
ED: | 2007-10-19 |
INSSI record number: 34767
+ add basket
INSSI