search query: @keyword kuvantaminen / total: 12
reference: 6 / 12
| Author: | Broas, Mikael |
| Title: | Piipohjaisten MEMS-komponenttien vauriomekanismien tutkimusmenetelmiä |
| Publication type: | Bachelor's thesis |
| Publication year: | 2011 |
| Pages: | 39 Language: fin |
| Department/School: | Sähkötekniikan korkeakoulu |
| Degree programme: | Elektroniikan ja sähkötekniikan tutkinto-ohjelma |
| Main subject: | Elektroniikka (S3027) |
| Supervisor: | Turunen, Markus |
| Instructor: | Hokka, Jussi |
| Electronic version URL: | http://urn.fi/URN:NBN:fi:aalto-201305162564 |
| Location: | |
| Keywords: | MEMS pii vaurioanalyysi näytteen valmistelu kuvantaminen |
| ED: | 2012-02-27 |
INSSI record number: 44031
+ add basket
INSSI