search query: @keyword spektrometri / total: 14
reference: 10 / 14
Author: | Laurila, Marko |
Title: | Characterization of a CCD-Based Spectrometer for Fluorescence Measurements |
CCD-detektorilla varustetun spektrometrin karakterisointi osaksi fluoresenssimittauslaitteistoa | |
Publication type: | Master's thesis |
Publication year: | 2005 |
Pages: | v + 61 s. + liitt. 7 Language: eng |
Department/School: | Sähkö- ja tietoliikennetekniikan osasto |
Main subject: | Mittaustekniikka (S-108) |
Supervisor: | Ikonen, Erkki |
Instructor: | Manoocheri, Farshid |
OEVS: | Electronic archive copy is available via Aalto Thesis Database.
Instructions Reading digital theses in the closed network of the Aalto University Harald Herlin Learning CentreIn the closed network of Learning Centre you can read digital and digitized theses not available in the open network. The Learning Centre contact details and opening hours: https://learningcentre.aalto.fi/en/harald-herlin-learning-centre/ You can read theses on the Learning Centre customer computers, which are available on all floors.
Logging on to the customer computers
Opening a thesis
Reading the thesis
Printing the thesis
|
Location: | P1 Ark S80 | Archive |
Keywords: | fluorescence spectrometer CCD-detector fluoresenssi spektrometri CCD-detektori |
Abstract (fin): | Tänä päivänä fluoresenssispektroskopia on yksi suurimmista tutkimusmenetelmistä monissa teollisuuden aloilla. Tavallisia fotometrisiä menetelmiä voidaan ainoastaan käyttää mitattaessa ei-fluoresoivaa materiaaleja. Valaistaessa fluoresoivaa materiaalia tietyn suuruisella valolla osa valosta heijastuu materiaalista, mutta osa absorboituu ja emittoituu uudelleen suuremmalla aallonpituudella. Tarve mitata nämä kaksi eri aallonpituuden omaavaa valoa tarpeeksi tarkasti on vaatinut monien kaupallisten fluorometrien kehittämistä. Lukuisat yritykset käyttävät monentyyppisiä fluorometrejä analysoidakseen tuotteitaan, kuitenkaan ei ole olemassa standardimenetelmiä, jolla voitaisiin kalibroida kyseisiä instrumenttejä tarpeeksi tarkasti. Erityisesti referenssimateriaalien puute, stabiilisuus sekä fluoresenssin kvanttihyötysuhteen mittauksen vaikeudet ovat ongelmallisia. Tämä diplomityö on osa tutkimusprojektia, jonka tavoitteena on rakentaa mittauslaitteisto, jolla voidaan karakterisoida standardimateriaaleja teollisuuden tarpeisiin. Mittauslaitteisto voidaan jakaa kahteen pääosaan eksitaatio- sekä emissioyksikköön. Emissioyksikkö koostuu emissiospektrometristä ja goniometrisestä valonkeräysoptiikasta, joka mahdollistaa valonkeräys- sekä valaisukulmien valinnan vapaasti. Tässä työssä rakennettiin ja karakterisoitiin emissiospektrometri sekä goniometrinen valonkeräysoptiikka. Emissiospektrometri rakennettiin yhdistämällä kaksi kaupallista laitetta, monokromaattori ja CCD-detektori. Emissiospektrometrin aallonpituuden tarkkuus, toistettavuus, kaistanleveys sekä spektrinen tehoherkkyys määritettiin karakterisoinnin yhteydessä. Karakterisoinnin jälkeen laitteistolla suoritettiin mittauksia käyttäen tunnettuja fluoresenssinäytteitä, joista määritettiin emissio- ja eksitaatiospektrit. Mittaukset suoritettiin eksitaatio- sekä emissioaallonpituuksilla 300 - 800 nm keräämällä emittoitunut säteily 10° ja valaisemalla näytettä 0° kulmassa näytteen kohtisuoraan nähden. Fluoresoituneen säteilyn emissiospektri mitattiin epätarkkuudella 4.68 % (k=2). |
ED: | 2006-01-23 |
INSSI record number: 30527
+ add basket
INSSI