search query: @keyword failure model / total: 2
reference: 1 / 2
« previous | next »
Author: | Erixon, Peter |
Title: | Erään taajuusmuuttajan piirikorttien luotettavuuden estimointi kiihdytetyllä testausmenetelmällä |
Reliability estimation of a frequency converter's printed circuit board assemblies based on accelerated test method | |
Publication type: | Master's thesis |
Publication year: | 2012 |
Pages: | [9] + 54 s. + liitt. 5 Language: fin |
Department/School: | Sähkötekniikan laitos |
Main subject: | Tehoelektroniikka (S-81) |
Supervisor: | Ovaska, Seppo |
Instructor: | Eskola, Ville |
OEVS: | Electronic archive copy is available via Aalto Thesis Database.
Instructions Reading digital theses in the closed network of the Aalto University Harald Herlin Learning CentreIn the closed network of Learning Centre you can read digital and digitized theses not available in the open network. The Learning Centre contact details and opening hours: https://learningcentre.aalto.fi/en/harald-herlin-learning-centre/ You can read theses on the Learning Centre customer computers, which are available on all floors.
Logging on to the customer computers
Opening a thesis
Reading the thesis
Printing the thesis
|
Location: | P1 Ark Aalto 689 | Archive |
Keywords: | life distribution acceleration factor acclelerated life test reliability test degradation test failure model Arrbenius equation activation energy taajuusmuuttaja kiihdytetty elinikätesti kiihdytetty luotettavuustesti kiihdytetty vanhentamistesti elinikäjakauma kiihdytyskerroin vikaantumismalli Arrheniuksen yhtälö aktivoitumisenergia |
Abstract (fin): | Kasvaneen kilpailun seurauksena yritysten tulee pystyä tuottamaan markkinoille luotettavia tuotteita kilpailijoitaan nopeammin. Kiihdytettyjen elinikätestien tavoitteena on vastata tähän tarpeeseen. Testien tarkoituksena on saada tietoa tuotteen luotettavuudesta käyttökauden aikana ja eteenkin sen lopussa. Eliniän estimointi kiihdytetyillä testausmenetelmillä perustuu tilastollisiin menetelmiin, jossa testeillä saadusta tilastollisesta aineistosta voidaan todennäköisyyslaskentaan perustuen estimoida testattavan tuotteen elinikä. Kiihdytettyihin elinikätesteihin liittyy tilastotieteen ja todennäköisyyslaskennan lisäksi keskeisesti eri vikamekanismit, joita testeissä kiihdytetään. Vikojen tulee esiintyä kiihdytetyissä testeissä samanlaisina kuin ne mahdollisesti esiintyisivät käyttöolosuhteissakin. Tämän diplomityön tarkoituksena on estimoida erään taajuusmuuttajan piirikorttien elinikä kiihdytetyllä elinikätestillä, kun rasitteena käytetään korkeaa tasaista lämpötilaa. Työn testausjärjestelmä rakennettiin sähköisesti piirikorttien normaalikäyttöä vastaavaksi. Kiihdytetyt testit suoritettiin Arctest Oy:n valmistamassa olosuhdetestauskaapissa. Testit suoritettiin kahdessa eri lämpötilassa, joista tässä työssä esitetään aikataulusyistä ensimmäisen testin tulokset kiihdytettyyn luotettavuustestiin perustuen. Kiihdytetyn luotettavuustestin tulosten perusteella piirikorttien luotettavuus estimoidaan komponentti- ja vikamekanismikohtaisiin aktivointienergioihin perustuen. Testitulosten tulkinnassa käytetyt aktivointienergiat perustuvat standardissa IEC 61709 annettuihin energioihin. Kahden eri testirasitteen perusteella voidaan saatujen elinikäjakaumien keskimääräisten elinikäestimaattien perusteella sovittaa karakteristinen elinikäsuora rasitustason funktiona, jonka perusteella saadaan keskimääräiset eliniät muilla rasitteiden arvoilla. |
ED: | 2012-05-14 |
INSSI record number: 44491
+ add basket
« previous | next »
INSSI