search query: @keyword MOVPE / total: 23
reference: 22 / 23
| Author: | Söderholm, Sampsa |
| Title: | Kvanttipistekerrosrakenteiden epitaktinen valmistus |
| Epitaxial growth of stacked quantum dot structures | |
| Publication type: | Master's thesis |
| Publication year: | 1998 |
| Pages: | 54 Language: fin |
| Department/School: | Sähkö- ja tietoliikennetekniikan osasto |
| Main subject: | Optoelektroniikka (S-104) |
| Supervisor: | Tuomi, Turkka |
| Instructor: | Sopanen, Markku |
| Digitized copy: | https://aaltodoc.aalto.fi/handle/123456789/86519 |
| OEVS: | Digitized archive copy is available in Aaltodoc
|
| Location: | P1 Ark S80 | Archive |
| Keywords: | kvanttipiste epitaksia MOVPE In0,5Ga0,5As-saarekkeet saarekekerrosten pinoaminen fotoluminesenssi |
| Abstract (fin): | Diplomityössä valmistettiin epitaktisesti yksi-, kaksi- ja kolmikerroksisia peitettyjä saarekerakenteita. Yhteensä tehtiin Teknillisen korkeakoulun Optoelektroniikan laboratorion MOVPE-laitteella 16 näytettä, joissa GaAs-alustakiteen päälle kasvoi In_(0,5)Ga_(0,5)As-saarekekerroksia. Saarekekasvu tapahtui Stranski-Krastanow -kasvumoodissa. Kvanttimekaanisessa tarkastelussa kvanttipisteiksi kutsuttujen saarekkeiden peittämiseen käytettiin GaAs:a. Valmistettuja näytteitä viritettiin valolla. Näytteiden luminesenssispektrit mitattiin Optoelektroniikan laboratorion fotoluminesenssilaitteistolla. Saarekkeet luminoivat 1,00 - 1,15 eV:n alueella saarekkeiden koosta riippuen. Yksikerroksinen saarekerakenne valmistettiin vertailevan tutkimuksen lähtökohdaksi. Kaksikerroksisten rakenteiden optisia ominaisuuksia tutkittiin In_(0,5)Ga_(0,5)As-saarekekerrosten välissä olevan GaAs-välikerroksen paksuuden ja saarekekerrosten nimellisen kerrospaksuuden funktiona. Parhaiten luminoivassa kaksikerroksisessa näytteessä saarekekerrosten nimellinen paksuus oli 5 atomikerrosta ja GaAs-välikerroksen paksuus 7 nm. Suurimmat luminesenssin intensiteetit ja pienimmät puoliarvonleveydet mitattiin kolmikerroksisista rakenteista. Voimakkaimmin luminoi rakenne, jossa alimman, keskimmäisen ja ylimmän saarekekerroksen nimelliset paksuudet olivat 5,5 ja 4 atomikerrosta. Pienin mitattu puoliarvonleveys oli 36 meV. Tämä mitattiin kolmikerroksisesta näytteestä, jossa jokaisen saarekekerroksen nimellinen paksuus oli 5 atomikerrosta ja välikerrosten paksuus 7 nm. |
| ED: | 1999-02-03 |
INSSI record number: 13888
+ add basket
INSSI