search query: @keyword MOVPE / total: 23
reference: 21 / 23
« previous | next »
Author:Toivonen, Juha
Title:Mikrokaviteettirakenteen valmistus ja optiset ominaisuudet
Fabrication and optical properties of microcavity structure
Publication type:Master's thesis
Publication year:1999
Pages:65      Language:   fin
Department/School:Sähkö- ja tietoliikennetekniikan osasto
Main subject:Optoelektroniikka   (S-104)
Supervisor:Tuomi, Turkka
Instructor:Lipsanen, Harri
OEVS:
Electronic archive copy is available via Aalto Thesis Database.
Instructions

Reading digital theses in the closed network of the Aalto University Harald Herlin Learning Centre

In the closed network of Learning Centre you can read digital and digitized theses not available in the open network.

The Learning Centre contact details and opening hours: https://learningcentre.aalto.fi/en/harald-herlin-learning-centre/

You can read theses on the Learning Centre customer computers, which are available on all floors.

Logging on to the customer computers

  • Aalto University staff members log on to the customer computer using the Aalto username and password.
  • Other customers log on using a shared username and password.

Opening a thesis

  • On the desktop of the customer computers, you will find an icon titled:

    Aalto Thesis Database

  • Click on the icon to search for and open the thesis you are looking for from Aaltodoc database. You can find the thesis file by clicking the link on the OEV or OEVS field.

Reading the thesis

  • You can either print the thesis or read it on the customer computer screen.
  • You cannot save the thesis file on a flash drive or email it.
  • You cannot copy text or images from the file.
  • You cannot edit the file.

Printing the thesis

  • You can print the thesis for your personal study or research use.
  • Aalto University students and staff members may print black-and-white prints on the PrintingPoint devices when using the computer with personal Aalto username and password. Color printing is possible using the printer u90203-psc3, which is located near the customer service. Color printing is subject to a charge to Aalto University students and staff members.
  • Other customers can use the printer u90203-psc3. All printing is subject to a charge to non-University members.
Location:P1 Ark S80     | Archive
Keywords:mikrokaviteetti
Braggin peili
kvanttikaivo
MOVPE
röntgendiffraktio
aikariippuva fotoluminesenssi
Abstract (fin):Teknillisen korkeakoulun Optoelektroniikan laboratorion MOVPE-laitteella valmistettiin viisi monikerroksista puolijohdenäytettä.
Kahden Braggin peilirakenteen avulla kalibroitiin puolijohteiden kasvunopeuksia ja yksittäisen kvanttikaivon avulla tarkistettiin kvanttikaivosta emittoituneiden fotonien energia.
Tyhjä mikrokaviteettirakenne valmistettiin vertailukohdaksi mikrokaviteettirakenteelle, jonka kaviteettiin valmistettiin yksi kvanttikaivo.
Röntgendiffraktiomittauksilla tutkittiin valmistettujen näytteiden kerrospaksuuksia ja näytteiden optisia ominaisuuksia tutkittiin heijastuskerroinmittauksilla, fotoluminesenssimittauksilla ja aikariippuvilla fotoluminesenssimittauksilla.

Mikrokaviteettien Braggin peilit valmistettiin 71 nm paksuista Al_(0,2)Ga_(0,8)As-kerroksista ja 82 nm paksuista AlAs-kerroksista.
Mikrokaviteettien yläpeileissä käytettiin 9-periodisia ja alapeileissä 121/2-periodisia Braggin peilejä.
Molempien peilien heijastuskerroin resonanssitaajuudella oli noin 0,9.
Yhden aallonpituuden mittaisen GaAs-kaviteettikerroksen paksuus oli noin 270 nanometriä.
Röntgendiffragtiomittauksilla selvitettiin puolijohdekerroksien paksuusjakaumaa ja todettiin kerrospaksuuksien muuttuvan näytteen alueella yli 15 prosenttia.
Kerrospaksuuksien vaihteluista johtuen mikrokaviteetin resonanssitaajuutta voitiin säätää siirtämällä mittauspistettä näytteen alueella.

Kvanttikaivollisen mikrokaviteettinäytteen heijastuskerroinspektrissä näkyi eksitonien aiheuttama piikki, mutta merkkejä vahvasta kaviteettimoodin ja eksitonien kytkeytymisestä ei löytynyt.
Aikariippuvista fotoluminesenssimittauksista selvitettiin luminesenssin intensiteetin eksponentiaalisen vaimenemisen aikavakiot.
Kaviteettimoodin ja eksitonien resonanssissa aikavakio oli 1,9 ns ja kaukana resonanssista 1,1 ns.
ED:1999-03-08
INSSI record number: 14032
+ add basket
« previous | next »
INSSI