search query: @keyword MOVPE / total: 23
reference: 21 / 23
Author: | Toivonen, Juha |
Title: | Mikrokaviteettirakenteen valmistus ja optiset ominaisuudet |
Fabrication and optical properties of microcavity structure | |
Publication type: | Master's thesis |
Publication year: | 1999 |
Pages: | 65 Language: fin |
Department/School: | Sähkö- ja tietoliikennetekniikan osasto |
Main subject: | Optoelektroniikka (S-104) |
Supervisor: | Tuomi, Turkka |
Instructor: | Lipsanen, Harri |
OEVS: | Electronic archive copy is available via Aalto Thesis Database.
Instructions Reading digital theses in the closed network of the Aalto University Harald Herlin Learning CentreIn the closed network of Learning Centre you can read digital and digitized theses not available in the open network. The Learning Centre contact details and opening hours: https://learningcentre.aalto.fi/en/harald-herlin-learning-centre/ You can read theses on the Learning Centre customer computers, which are available on all floors.
Logging on to the customer computers
Opening a thesis
Reading the thesis
Printing the thesis
|
Location: | P1 Ark S80 | Archive |
Keywords: | mikrokaviteetti Braggin peili kvanttikaivo MOVPE röntgendiffraktio aikariippuva fotoluminesenssi |
Abstract (fin): | Teknillisen korkeakoulun Optoelektroniikan laboratorion MOVPE-laitteella valmistettiin viisi monikerroksista puolijohdenäytettä. Kahden Braggin peilirakenteen avulla kalibroitiin puolijohteiden kasvunopeuksia ja yksittäisen kvanttikaivon avulla tarkistettiin kvanttikaivosta emittoituneiden fotonien energia. Tyhjä mikrokaviteettirakenne valmistettiin vertailukohdaksi mikrokaviteettirakenteelle, jonka kaviteettiin valmistettiin yksi kvanttikaivo. Röntgendiffraktiomittauksilla tutkittiin valmistettujen näytteiden kerrospaksuuksia ja näytteiden optisia ominaisuuksia tutkittiin heijastuskerroinmittauksilla, fotoluminesenssimittauksilla ja aikariippuvilla fotoluminesenssimittauksilla. Mikrokaviteettien Braggin peilit valmistettiin 71 nm paksuista Al_(0,2)Ga_(0,8)As-kerroksista ja 82 nm paksuista AlAs-kerroksista. Mikrokaviteettien yläpeileissä käytettiin 9-periodisia ja alapeileissä 121/2-periodisia Braggin peilejä. Molempien peilien heijastuskerroin resonanssitaajuudella oli noin 0,9. Yhden aallonpituuden mittaisen GaAs-kaviteettikerroksen paksuus oli noin 270 nanometriä. Röntgendiffragtiomittauksilla selvitettiin puolijohdekerroksien paksuusjakaumaa ja todettiin kerrospaksuuksien muuttuvan näytteen alueella yli 15 prosenttia. Kerrospaksuuksien vaihteluista johtuen mikrokaviteetin resonanssitaajuutta voitiin säätää siirtämällä mittauspistettä näytteen alueella. Kvanttikaivollisen mikrokaviteettinäytteen heijastuskerroinspektrissä näkyi eksitonien aiheuttama piikki, mutta merkkejä vahvasta kaviteettimoodin ja eksitonien kytkeytymisestä ei löytynyt. Aikariippuvista fotoluminesenssimittauksista selvitettiin luminesenssin intensiteetin eksponentiaalisen vaimenemisen aikavakiot. Kaviteettimoodin ja eksitonien resonanssissa aikavakio oli 1,9 ns ja kaukana resonanssista 1,1 ns. |
ED: | 1999-03-08 |
INSSI record number: 14032
+ add basket
INSSI