search query: @keyword SN29500 / total: 3
reference: 2 / 3
Author: | Kopola, Pälvi |
Title: | Reliability Prediction of an Electronic Ballast |
Elektronisen liitäntälaitteen luotettavuuden ennustaminen | |
Publication type: | Master's thesis |
Publication year: | 2006 |
Pages: | 102 Language: eng |
Department/School: | Sähkö- ja tietoliikennetekniikan osasto |
Main subject: | Elektroniikan valmistustekniikka (S-113) |
Supervisor: | Kivilahti, Jorma |
Instructor: | Lahtinen, Raimo |
OEVS: | Electronic archive copy is available via Aalto Thesis Database.
Instructions Reading digital theses in the closed network of the Aalto University Harald Herlin Learning CentreIn the closed network of Learning Centre you can read digital and digitized theses not available in the open network. The Learning Centre contact details and opening hours: https://learningcentre.aalto.fi/en/harald-herlin-learning-centre/ You can read theses on the Learning Centre customer computers, which are available on all floors.
Logging on to the customer computers
Opening a thesis
Reading the thesis
Printing the thesis
|
Location: | P1 Ark S80 | Archive |
Keywords: | reliability electronic ballast SN29500 accelerated tests luotettavuus elektroninen liitäntälaite SN29500 kiihdytetyt testit |
Abstract (fin): | Tässä diplomityössä analysoitiin elektronisen liitäntälaitteen luotettavuutta empiirisen luotettavuusmallin ja kiihdytettyjen testien avulla. Empiirinen luotettavuusmalli toteutettiin Siemensin SN29500 luötettavuuskäsikirjaa apuna käyttäen. Työn kirjallisuusosassa paneuduttiin luotettavuuden peruskäsitteisiin, luotettavuuden ennustamiseen ja kiihdytettyjen testien hyödyntämiseen luotettavuustarkasteluissa. Lisäksi kirjallisuusosassa käsiteltiin lyhyesti elektronisen liitäntälaitteen ominaisuuksia ja elektronisissa liitäntälaitteissa olevia komponentteja ja niiden yleisimpiä vauriomekanismeja. Elektronisen liitäntälaitteen komponenttien perusvikataajuuksina käytettiin SN29500 luotettavuuskäsikirjassa esitettyjä arvoja. Komponenttien oikeat rasitukset normaalissa käyttöympäristössä määritettiin erilaisin mittausmenetelmin ja otettiin huomioon komponenttien lopullisia vikataajuuksia laskettaessa. Jokaisen komponentin vikaantumisen voitiin olettaa johtavan elektronisen liitäntälaitteen lopulliseen vaurioon, joten laitteen vikataajuus määritettiin laskemalla yhteen yksittäisten komponenttien vikataajuudet. Elektronisen liitäntälaitteen luotettavuutta tarkasteltiin myös kiihdytettyjen testien avulla, joissa käytettiin lämpötilaa rasittavana tekijänä. Diplomityön tuloksena saatiin varmistus EL1x58/54s elektronisen liitäntälaitteen luotettavuudesta. Vikataajuudeksi määritettiin 281 FIT Tc pisteen lämpötilan ollessa 40°C ja 979 FIT, kun Tc pisteen lämpötila oli 70°C. Siemensin luotettavuuskäsikirjan perusteella EL1x58/54s elektronista liitäntälaitetta voidaan pitää luotettavana tuotteena. Lisäksi kiihdytetyt testit osoittivat laitteen kestävän sekä korkean että vaihtelevan lämpötilan aiheuttamia rasituksia. |
ED: | 2006-03-21 |
INSSI record number: 31383
+ add basket
INSSI