search query: @keyword particle detector / total: 3
reference: 1 / 3
« previous | next »
Author: | Maksimow, Maria |
Title: | Transient Current Technique (TCT) Characterization of Silicon Particle Detectors |
Piihiukkasilmaisimien karakterisointi virtatransienttimenetelmällä | |
Publication type: | Master's thesis |
Publication year: | 2009 |
Pages: | viii + 53 Language: eng |
Department/School: | Elektroniikan, tietoliikenteen ja automaation tiedekunta |
Main subject: | Optoelektroniikka (S-104) |
Supervisor: | Lipsanen, Harri |
Instructor: | Härkönen, Jaakko |
Electronic version URL: | http://urn.fi/URN:NBN:fi:aalto-201203071316 |
OEVS: | Electronic archive copy is available via Aalto Thesis Database.
Instructions Reading digital theses in the closed network of the Aalto University Harald Herlin Learning CentreIn the closed network of Learning Centre you can read digital and digitized theses not available in the open network. The Learning Centre contact details and opening hours: https://learningcentre.aalto.fi/en/harald-herlin-learning-centre/ You can read theses on the Learning Centre customer computers, which are available on all floors.
Logging on to the customer computers
Opening a thesis
Reading the thesis
Printing the thesis
|
Location: | P1 Ark S80 | Archive |
Keywords: | TCT silicon radiation hardness MCZ-Si particle detector pii säteilynkestävyys MCZ-pii hiukkasilmaisin |
Abstract (eng): | In future high energy physics experiments, such as in the foreseen upgrade of the particle accelerator LHC at CERN, particle detectors will be exposed to significantly high particle radiation doses. Thus, extensive research is being conducted on improving the radiation hardness of silicon particle detectors and various defect and device engineering methods are examined. However, little data has been gathered especially from p-type magnetic Czochralski silicon (MCZ-Si) devices. This thesis presents the results of comparative transient current technique (TCT) measurements of both n-type and p-type MCZ silicon detectors as well as n-type Float Zone (FZ) silicon detectors. The results demonstrate that the MCZ silicon devices have superior radiation hard properties in comparison with the FZ silicon devices. Various examined parameters also suggest that p-type may be a more radiation hard material solution for silicon detectors than n-type MCZ silicon. Thus, replacing the currently installed FZ silicon detectors in LHC experiments with either n-type or p-type MCZ-Si devices is a viable option. |
Abstract (fin): | Hiukkasilmaisimet altistuvat huomattavalle säteilylle tulevaisuudessa korkean energian hiukkasfysiikkakokeissa, esimerkiksi kun CERN:n hiukkaskiihdytin LHC ajanmukaistetaan. Näin ollen pii-ilmaisimien säteilynkestävyyden parantamista eli erilaisten säteilyn aiheuttamien kidevirheiden sekä ilmaisinsovellusten muokkaamista tutkitaan laajasti. Magneettisella Czochralski-menetelmällä (MCZ) valmistetuista kiekoista prosessoituja p-tyypin ilmaisimia on kuitenkin tarkasteltu melko vähän. Tässä työssä verrattiin sekä n- että p-tyypin MCZpii-ilmaisimia sekä float zone -menetelmällä (FZ) valmistetuista kiekoista prosessoituja n-tyypin ilmaisimia suorittamalla virtatransienttimittauksia (TCT). Tulokset osoittavat, että MCZ-piin sähköiset ominaisuudet ovat huomattavasti säteilynkestävämpiä kuin FZ-piin. Tutkittujen parametrien perusteella voidaan myös päätellä, että p-tyypin MCZ-pii saattaa olla säteilynkestävämpi ilmaisinmateriaali kuin n-tyypin MCZ-pii. Tämän työn tulokset tukevat siis oletusta, että LHC-kokeiden nykyisten FZ-pii-ilmaisimien vaihtaminen n- tai p-tyypin MCZ-ilmaisimiin olisi varteenotettava vaihtoehto. |
ED: | 2009-10-07 |
INSSI record number: 38440
+ add basket
« previous | next »
INSSI