search query: @keyword mittauslaitteisto / total: 5
reference: 1 / 5
« previous | next »
Author:Vaskuri, Anna
Title:Multi-Wavelength Setup Based on Lasers for Characterizing Optical Detectors and Materials
Lasereihin perustuva laitteisto optisten ilmaisimien ja materiaalien karakterisointiin
Publication type:Master's thesis
Publication year:2014
Pages:viii + 57      Language:   eng
Department/School:Sähkötekniikan korkeakoulu
Main subject:Elektroniikka ja sovellukset   (S3007)
Supervisor:Ikonen, Erkki
Instructor:Kärhä, Petri ; Dönsberg, Timo
Electronic version URL: http://urn.fi/URN:NBN:fi:aalto-201404231725
OEVS:
Electronic archive copy is available via Aalto Thesis Database.
Instructions

Reading digital theses in the closed network of the Aalto University Harald Herlin Learning Centre

In the closed network of Learning Centre you can read digital and digitized theses not available in the open network.

The Learning Centre contact details and opening hours: https://learningcentre.aalto.fi/en/harald-herlin-learning-centre/

You can read theses on the Learning Centre customer computers, which are available on all floors.

Logging on to the customer computers

  • Aalto University staff members log on to the customer computer using the Aalto username and password.
  • Other customers log on using a shared username and password.

Opening a thesis

  • On the desktop of the customer computers, you will find an icon titled:

    Aalto Thesis Database

  • Click on the icon to search for and open the thesis you are looking for from Aaltodoc database. You can find the thesis file by clicking the link on the OEV or OEVS field.

Reading the thesis

  • You can either print the thesis or read it on the customer computer screen.
  • You cannot save the thesis file on a flash drive or email it.
  • You cannot copy text or images from the file.
  • You cannot edit the file.

Printing the thesis

  • You can print the thesis for your personal study or research use.
  • Aalto University students and staff members may print black-and-white prints on the PrintingPoint devices when using the computer with personal Aalto username and password. Color printing is possible using the printer u90203-psc3, which is located near the customer service. Color printing is subject to a charge to Aalto University students and staff members.
  • Other customers can use the printer u90203-psc3. All printing is subject to a charge to non-University members.
Location:P1 Ark Aalto  1011   | Archive
Keywords:laser
measurement setup
optical detector calibration
power responsivity
spatial uniformity
UV degradation
mittauslaitteisto
optisen ilmaisimen kalibrointi
tehoherkkyys
spatiaalivaste
UV-hajoaminen
Abstract (eng):Optical detectors are used in various applications ranging from imaging devices, security systems, and robotic vision, to signaling and transmission systems.
Spectral power responsivity and spatial uniformity are crucial parameters for characterizing detectors.
In this thesis, a multi-wavelength setup based on lasers has been designed and constructed for these measurements.
The setup directs a stable, collimated laser beam with a narrow beam diameter to a sample holder unit mounted on a high-resolution XY translation stage.
Detectors can be interchanged to calibrate absolute power responsivities, or they can be scanned to obtain spatial uniformities.
The measurement setup can also be used to characterize optical properties of materials, such as photoyellowing, by measuring their transmittances.
The performance of the setup was characterized by measuring the quality of the laser beam.
Based on the measurements, the 8 h stability of the laser when using the laser power controller had a relative standard deviation of 0.01 %.
By monitoring the stabilized beam with a monitor detector, the relative standard deviation decreased below 0.007 %.
The spatial filter used in the setup was verified to smooth the beam profile, especially with diode lasers.
The setup developed improves the accuracy and repeatability of consecutive annual detector calibrations in the Metrology Research Institute.
The setup enables routine scanning of the spatial uniformity in pursuance of the calibration; it can be used, e.g., to check the condition of the detector.
In the material science, a combination of the ultraviolet (UV) spectrograph and the measurement setup developed enables a novel method for studying the UV radiation-induced degradation of materials with a resolution smaller than 2 nm, which is a significant improvement for earlier methods.
Abstract (fin):Optisia ilmaisimia käytetään monissa sovelluksissa kuvantamislaitteista, turvajärjestelmistä sekä konenäkösovelluksista merkinanto- ja tiedonsiirtojärjestelmiin.
Spektrinen tehoherkkyys ja spatiaalivaste ovat ratkaisevan tärkeitä parametreja optisten ilmaisimien karakterisoinnissa.
Tässä työssä on suunniteltu ja toteutettu lasereihin perustuva laitteisto kyseisiä mittauksia varten.
Mittauslaitteisto ohjaa stabiilin, kollimoidun ja halkaisijaltaan kapean lasersäteen näytepidikkeelle, joka on asennettu korkearesoluutioiselle XY-siirtimelle.
Ilmaisimia voidaan vaihtaa keskenään absoluuttisen tehoherkkyyden kalibroimiseksi, tai niiden spatiaalivasteet voidaan skannata.
Mittauslaitteistolla voidaan myös karakterisoida materiaalien optisia ominaisuuksia, kuten kellastumista, mittaamalla niiden transmittanssit.
Laitteiston suorituskyky karakterisoitiin mittaamalla lasersäteen laatua.
Mittausten perusteella laitteiston lasersäteen 8 h stabiilisuuden suhteellinen keskihajonta oli 0.01 % käytettäessä tehosäädintä.
Stabiloidun lasersäteen tarkkailu erillisellä ilmaisimella laski suhteellisen keskihajonnan alle 0.007 %:iin.
Lisäksi laitteistossa käytetyn spatiaalisuodattimen todettiin tasoittavan lasersäteen profiilia, etenkin diodilaseria käytettäessä.
Kehitetty laitteisto parantaa MIKES-Aalto Mittaustekniikassa suoritettavien peräkkäisten vuotuisten ilmaisinkalibrointien tarkkuutta ja toistettavuutta.
Laitteisto mahdollistaa spatiaalivasteen rutiiniskannauksen kalibroinnin yhteydessä; sillä voidaan tarkistaa esimerkiksi ilmaisimen kunto.
Materiaalitieteen alalla ultravioletti (UV) spektrografin ja kehitetyn mittauslaitteiston yhdistelmä mahdollistaa uuden menetelmän tutkia UV-säteilyn aiheuttamaa materiaalien hajoamista alle 2 nm resoluutiolla, mikä on merkittävä parannus aiempiin menetelmiin verrattuna.
ED:2014-05-04
INSSI record number: 48957
+ add basket
« previous | next »
INSSI