search query: @keyword pattern / total: 6
reference: 3 / 6
« previous | next »
Author:Järvinen, Juho
Title:Semiconductor memories and testing methods in telecommunications
Puolijohdemuistit ja niiden käyttö tietoliikenteessä
Publication type:Master's thesis
Publication year:2007
Pages:84      Language:   eng
Department/School:Sähkö- ja tietoliikennetekniikan osasto
Main subject:Signaalinkäsittelytekniikka   (S-88)
Supervisor:Skyttä, Jorma
Instructor:Räty, Esko
OEVS:
Electronic archive copy is available via Aalto Thesis Database.
Instructions

Reading digital theses in the closed network of the Aalto University Harald Herlin Learning Centre

In the closed network of Learning Centre you can read digital and digitized theses not available in the open network.

The Learning Centre contact details and opening hours: https://learningcentre.aalto.fi/en/harald-herlin-learning-centre/

You can read theses on the Learning Centre customer computers, which are available on all floors.

Logging on to the customer computers

  • Aalto University staff members log on to the customer computer using the Aalto username and password.
  • Other customers log on using a shared username and password.

Opening a thesis

  • On the desktop of the customer computers, you will find an icon titled:

    Aalto Thesis Database

  • Click on the icon to search for and open the thesis you are looking for from Aaltodoc database. You can find the thesis file by clicking the link on the OEV or OEVS field.

Reading the thesis

  • You can either print the thesis or read it on the customer computer screen.
  • You cannot save the thesis file on a flash drive or email it.
  • You cannot copy text or images from the file.
  • You cannot edit the file.

Printing the thesis

  • You can print the thesis for your personal study or research use.
  • Aalto University students and staff members may print black-and-white prints on the PrintingPoint devices when using the computer with personal Aalto username and password. Color printing is possible using the printer u90203-psc3, which is located near the customer service. Color printing is subject to a charge to Aalto University students and staff members.
  • Other customers can use the printer u90203-psc3. All printing is subject to a charge to non-University members.
Location:P1 Ark S80     | Archive
Keywords:memory
testing
pattern
fault
reliability
FPGA
BIST
BISR
muistit
testaus
algoritmit
luotettavuus
FPGA
BIST
BISR
Abstract (fin): Muistiteknologiat kehittyvät koko ajan, ja kuten muiden puolijohdetuotteiden kanssa, Mooren lain mukana pysyminen on ollut päätavoite viime vuosina.
Tämän seurauksen, bittien määrä muistipiireissä kasvaa vuosi vuodelta, ja insinöörit joutuvat keksimään uusia keinoja välttääkseen ongelmat, joita syntyy viivanleveyden pienentyessä.

Muistien testaus on tärkeä osa valmistusprosessia, mutta pelkkä valmistusvaiheessa tapahtuva testaus ei silti ole aina välttämättä riittävää.
Valmistuksessa aiheutuneet virheet saatetaan huomata välittömästi tai jälkeenpäin, kun muistipiirit ovat joutuneet rasituksen alle.
"Hard-error", eli piirissä oleva pysyvä vika, voi aiheuttaa suuria ongelmia; varsinkin jos se ilmenee vasta muistipiirin asennuksenjälkeen.
Vikaantuneen muistin paikallistaminen voi olla vaikeaa, jos siihen tarkoitettuja työkaluja ei ole järjestelmässä valmiina.

Sisäänrakennettu itsensä testaus (BIST) ja sisäänrakennettu itsensä korjaavuus (BISR) ovat rakenteita, joita yleensä käytetään integroitujen piirien sisäisten muistien testaamiseen ja korjaamiseen.
Integroidun piirin muistin vikaantuminen voi tehdä koko piiristä hyödyttömän, jos vikaa ei voida korjata.
Tässä työssä näitä rakenteita käytetään korvautuvuuden (redundanssi) lisäämiseen ulkoisille muisteille.
Lukijalle selvitetään yleisimmät ja kehittyvät muistiteknologiat, muistivikatyypit, yleisimmät testausalgoritmit muistivikojen selvittämiseen ja tarvittavat työkalut ulkoisten muistien vikojen paikallistamiseen ja korjaamiseen Tellabs 8600 järjestelmässä.
ED:2007-10-19
INSSI record number: 34767
+ add basket
« previous | next »
INSSI