search query: @keyword reliability testing / total: 6
reference: 4 / 6
Author: | Vaalasranta, Ilkka |
Title: | Haihtumattomat muistitekniikat ja miiden luotettavuus |
Nonvolatile memory technologies and reliability | |
Publication type: | Master's thesis |
Publication year: | 2008 |
Pages: | xiii + 83 Language: fin |
Department/School: | Elektroniikan, tietoliikenteen ja automaation tiedekunta |
Main subject: | Mittaustekniikka (S-108) |
Supervisor: | Ikonen, Erkki |
Instructor: | Törmälehto, Kimmo |
OEVS: | Electronic archive copy is available via Aalto Thesis Database.
Instructions Reading digital theses in the closed network of the Aalto University Harald Herlin Learning CentreIn the closed network of Learning Centre you can read digital and digitized theses not available in the open network. The Learning Centre contact details and opening hours: https://learningcentre.aalto.fi/en/harald-herlin-learning-centre/ You can read theses on the Learning Centre customer computers, which are available on all floors.
Logging on to the customer computers
Opening a thesis
Reading the thesis
Printing the thesis
|
Location: | P1 Ark S80 | Archive |
Keywords: | flash memory acceleration sensor reliability testing EEPROM muisti MEMS kiihtyvyysanturi luotettavuus luotettavuustestaus |
Abstract (fin): | Tässä diplomityössä karakterisoitiin kiihtyvyysanturikomponentin ASIC-piirille integroidun EEPROM-muistin toimintaa ja luotettavuutta. Teoriaosuudessa käytiin läpi EEPROM-muistisolun ja flash-muistien toimintaa. Lisäksi tutustuttiin luotettavuustekniikkaan puolijohdeteollisuuden näkökulmasta. Käsiteltiin myös haihtumattomille muisteille ominaisia vikamoodeja, luotettavuusongelmia sekä erilaisia keinoja parantaa haihtumattomien muistien luotettavuutta. Lisäksi käydään läpi muistien luotettavuustestausta. Mittausosuudessa karakterisoitiin vialliseksi testattujen EEPROM-muistisolujen kynnysjännitteen kehitystä käyttäen hyväksi luotettavuustestauksen menetelmiä. Mittausten tarkoituksena oli todeta testauksessa käytetyn seulomismenetelmän soveltuvuus tarkoitukseensa. Lopputuloksena menetelmän avulla voitiin parantaa merkittävästi kyseisen kiihtyvyysanturikomponenttituotteen yleistä luotettavuutta. Tähän vikaantumiseen liittyvät asiakaspalautukset vähenivät murto-osaan, kun potentiaalisesti vikaantuvat tuotteet saatiin karsittua pois populaatiosta. |
ED: | 2008-05-06 |
INSSI record number: 35571
+ add basket
INSSI