search query: @supervisor Ovaska, Seppo / total: 64
reference: 28 / 64
« previous | next »
Author:Erixon, Peter
Title:Erään taajuusmuuttajan piirikorttien luotettavuuden estimointi kiihdytetyllä testausmenetelmällä
Reliability estimation of a frequency converter's printed circuit board assemblies based on accelerated test method
Publication type:Master's thesis
Publication year:2012
Pages:[9] + 54 s. + liitt. 5      Language:   fin
Department/School:Sähkötekniikan laitos
Main subject:Tehoelektroniikka   (S-81)
Supervisor:Ovaska, Seppo
Instructor:Eskola, Ville
OEVS:
Electronic archive copy is available via Aalto Thesis Database.
Instructions

Reading digital theses in the closed network of the Aalto University Harald Herlin Learning Centre

In the closed network of Learning Centre you can read digital and digitized theses not available in the open network.

The Learning Centre contact details and opening hours: https://learningcentre.aalto.fi/en/harald-herlin-learning-centre/

You can read theses on the Learning Centre customer computers, which are available on all floors.

Logging on to the customer computers

  • Aalto University staff members log on to the customer computer using the Aalto username and password.
  • Other customers log on using a shared username and password.

Opening a thesis

  • On the desktop of the customer computers, you will find an icon titled:

    Aalto Thesis Database

  • Click on the icon to search for and open the thesis you are looking for from Aaltodoc database. You can find the thesis file by clicking the link on the OEV or OEVS field.

Reading the thesis

  • You can either print the thesis or read it on the customer computer screen.
  • You cannot save the thesis file on a flash drive or email it.
  • You cannot copy text or images from the file.
  • You cannot edit the file.

Printing the thesis

  • You can print the thesis for your personal study or research use.
  • Aalto University students and staff members may print black-and-white prints on the PrintingPoint devices when using the computer with personal Aalto username and password. Color printing is possible using the printer u90203-psc3, which is located near the customer service. Color printing is subject to a charge to Aalto University students and staff members.
  • Other customers can use the printer u90203-psc3. All printing is subject to a charge to non-University members.
Location:P1 Ark Aalto  689   | Archive
Keywords:life distribution
acceleration factor
acclelerated life test
reliability test
degradation test
failure model
Arrbenius equation
activation energy
taajuusmuuttaja
kiihdytetty elinikätesti
kiihdytetty luotettavuustesti
kiihdytetty vanhentamistesti
elinikäjakauma
kiihdytyskerroin
vikaantumismalli
Arrheniuksen yhtälö
aktivoitumisenergia
Abstract (fin): Kasvaneen kilpailun seurauksena yritysten tulee pystyä tuottamaan markkinoille luotettavia tuotteita kilpailijoitaan nopeammin.
Kiihdytettyjen elinikätestien tavoitteena on vastata tähän tarpeeseen.
Testien tarkoituksena on saada tietoa tuotteen luotettavuudesta käyttökauden aikana ja eteenkin sen lopussa.

Eliniän estimointi kiihdytetyillä testausmenetelmillä perustuu tilastollisiin menetelmiin, jossa testeillä saadusta tilastollisesta aineistosta voidaan todennäköisyyslaskentaan perustuen estimoida testattavan tuotteen elinikä.
Kiihdytettyihin elinikätesteihin liittyy tilastotieteen ja todennäköisyyslaskennan lisäksi keskeisesti eri vikamekanismit, joita testeissä kiihdytetään.
Vikojen tulee esiintyä kiihdytetyissä testeissä samanlaisina kuin ne mahdollisesti esiintyisivät käyttöolosuhteissakin.

Tämän diplomityön tarkoituksena on estimoida erään taajuusmuuttajan piirikorttien elinikä kiihdytetyllä elinikätestillä, kun rasitteena käytetään korkeaa tasaista lämpötilaa.
Työn testausjärjestelmä rakennettiin sähköisesti piirikorttien normaalikäyttöä vastaavaksi.
Kiihdytetyt testit suoritettiin Arctest Oy:n valmistamassa olosuhdetestauskaapissa.
Testit suoritettiin kahdessa eri lämpötilassa, joista tässä työssä esitetään aikataulusyistä ensimmäisen testin tulokset kiihdytettyyn luotettavuustestiin perustuen.

Kiihdytetyn luotettavuustestin tulosten perusteella piirikorttien luotettavuus estimoidaan komponentti- ja vikamekanismikohtaisiin aktivointienergioihin perustuen.
Testitulosten tulkinnassa käytetyt aktivointienergiat perustuvat standardissa IEC 61709 annettuihin energioihin.
Kahden eri testirasitteen perusteella voidaan saatujen elinikäjakaumien keskimääräisten elinikäestimaattien perusteella sovittaa karakteristinen elinikäsuora rasitustason funktiona, jonka perusteella saadaan keskimääräiset eliniät muilla rasitteiden arvoilla.
ED:2012-05-14
INSSI record number: 44491
+ add basket
« previous | next »
INSSI