search query: @keyword capacitive sensor / total: 7
reference: 5 / 7
Author: | Rönö, Markku |
Title: | Kapasitiivinen mittausjärjestelmä nippikuormaprofiilin mittaamiseksi |
A capacitive nip load profile measurement system | |
Publication type: | Master's thesis |
Publication year: | 2004 |
Pages: | 74 Language: fin |
Department/School: | Sähkö- ja tietoliikennetekniikan osasto |
Main subject: | Sovellettu elektroniikka (S-66) |
Supervisor: | Sepponen, Raimo |
Instructor: | Innala, Matti |
OEVS: | Electronic archive copy is available via Aalto Thesis Database.
Instructions Reading digital theses in the closed network of the Aalto University Harald Herlin Learning CentreIn the closed network of Learning Centre you can read digital and digitized theses not available in the open network. The Learning Centre contact details and opening hours: https://learningcentre.aalto.fi/en/harald-herlin-learning-centre/ You can read theses on the Learning Centre customer computers, which are available on all floors.
Logging on to the customer computers
Opening a thesis
Reading the thesis
Printing the thesis
|
Location: | P1 Ark S80 | Archive |
Keywords: | nip load profile capacitive sensor femtofarad nippikuormaprofiili kapasitiivinen anturi femtofaradi |
Abstract (fin): | Tässä työssä esitetään mittausjärjestelmä paperikoneen kahden pyörivän telan toisiinsa kohdistaman ns. nippivoimaprofiilin mittaamiseksi. Mittaus toteutetaan kapasitiivisilla antureilla, jotka asennetaan toisen telan pinnoitekerroksen alle. Nippivoiman aiheuttama kapasitanssimuutos anturissa on hyvin pieni, ja suurimpi haasteita tässä työssä onkin riittävän erottelukyvyn saavuttaminen. Riittäväksi erottelukyvyksi on arvioitu noin 0,1 - 1 fF. Vaadittava mittauskaistanleveys määräytyy telojen pyörimisnopeuden mukaan. Riittävä kaistanleveys on noin 6 - 13 kHz. Tässä työssä keskitytään olemassa olevan prototyyppilaitteen karakterisointiin sekä sen kehittämiseen tuotantoon sopivaksi. Myös vaihtoehtoisia ratkaisuja antureiden lukuelektroniikaksi selvitetään. Prototyyppilaite perustuu valmiiseen kapasitanssinmittauspiiriin, jota on ulkoisilla lisäpiireillä muokattu tähän sovellukseen sopivaksi. Saatujen tulosten perusteella voidaan sanoa, että tehdyt muutokset vaikuttivat mittauspiirin toimintaan myös heikentävästi. Nämä heikennykset osoittautuivat lopulta niin vakaviksi, että mittauselektroniikalle joudutaan hakemaan kokonaan uutta lähestymistapaa. |
ED: | 2005-01-19 |
INSSI record number: 26668
+ add basket
INSSI