haku: @keyword optics / yhteensä: 11
hakutulos-lista
viite: 6 / 11
« edellinen | seuraava »
Tekijä:Khanna, Amit
Työn nimi:Characterization of Silicon Micro-Optical Waveguides
Julkaisutyyppi:Diplomityö
Julkaisuvuosi:2008
Sivut:55      Kieli:   eng
Koulu/Laitos/Osasto:Elektroniikan, tietoliikenteen ja automaation tiedekunta
Koulutusohjelma:Elektroniikan ja sähkötekniikan tutkinto-ohjelma
Oppiaine:Optoelektroniikka   (S-104)
Valvoja:Honkanen, Seppo
Ohjaaja:Säynätjoki, Antti
Elektroninen julkaisu: http://urn.fi/urn:nbn:fi:tkk-012416
OEVS:
Sähköinen arkistokappale on luettavissa Aalto Thesis Databasen kautta.
Ohje
sulje

Digitaalisten opinnäytteiden lukeminen Aalto-yliopiston Harald Herlin -oppimiskeskuksen suljetussa verkossa

Oppimiskeskuksen suljetussa verkossa voi lukea sellaisia digitaalisia ja digitoituja opinnäytteitä, joille ei ole saatu julkaisulupaa avoimessa verkossa.

Oppimiskeskuksen yhteystiedot ja aukioloajat: https://learningcentre.aalto.fi/fi/harald-herlin-oppimiskeskus/

Opinnäytteitä voi lukea Oppimiskeskuksen asiakaskoneilla, joita löytyy kaikista kerroksista.

Kirjautuminen asiakaskoneille

  • Aalto-yliopistolaiset kirjautuvat asiakaskoneille Aalto-tunnuksella ja salasanalla.
  • Muut asiakkaat kirjautuvat asiakaskoneille yhteistunnuksilla.

Opinnäytteen avaaminen

  • Asiakaskoneiden työpöydältä löytyy kuvake:

    Aalto Thesis Database

  • Kuvaketta klikkaamalla pääset hakemaan ja avaamaan etsimäsi opinnäytteen Aaltodoc-tietokannasta. Opinnäytetiedosto löytyy klikkaamalla viitetietojen OEV- tai OEVS-kentän linkkiä.

Opinnäytteen lukeminen

  • Opinnäytettä voi lukea asiakaskoneen ruudulta tai sen voi tulostaa paperille.
  • Opinnäytetiedostoa ei voi tallentaa muistitikulle tai lähettää sähköpostilla.
  • Opinnäytetiedoston sisältöä ei voi kopioida.
  • Opinnäytetiedostoa ei voi muokata.

Opinnäytteen tulostus

  • Opinnäytteen voi tulostaa itselleen henkilökohtaiseen opiskelu- ja tutkimuskäyttöön.
  • Aalto-yliopiston opiskelijat ja henkilökunta voivat tulostaa mustavalkotulosteita Oppimiskeskuksen SecurePrint-laitteille, kun tietokoneelle kirjaudutaan omilla Aalto-tunnuksilla. Väritulostus on mahdollista asiakaspalvelupisteen tulostimelle u90203-psc3. Väritulostaminen on maksullista Aalto-yliopiston opiskelijoille ja henkilökunnalle.
  • Ulkopuoliset asiakkaat voivat tulostaa mustavalko- ja väritulosteita Oppimiskeskuksen asiakaspalvelupisteen tulostimelle u90203-psc3. Tulostaminen on maksullista.
Sijainti:P1 Ark S80     | Arkisto
Avainsanat:silicon
optics
silicon photonics
attenuation
Bragg mirror
birefringence
transmission spectrum
amorphous silicon
strip waveguides
SOI waveguides
Tiivistelmä (eng):In modern electronic circuitry, electrical interconnects have not kept pace with increasing electronic processing speed.
Various drawbacks of electrical domain viz. bandwidth limitation, signal delay, electromagnetic wave phenomenon propelled the use of optical fibers.
Optical waveguides provide a novel solution because of the absence of these phenomena in the optical domain.
Various materials like polymers, III-V semiconductor compounds, LiNbO3 etc. have been analyzed for fabricating optical waveguides.
We have chosen silicon as a material for optical waveguides.
Silicon is extensively used for complimentary metal oxide semiconductor (CMOS) transistor fabrication.
Thus, to use silicon for fabricating optical components is highly favorable from a technological standpoint.

In this thesis, we characterize silicon optical waveguides.
Loss in 10µm wide hydrogenated amorphous silicon (a-Si:H) strip optical waveguides is estimated to be 1.5dB/cm and 0.1dB/cm in rib type silicon on insulator (SOI) optical waveguides.
Reflectivity of Bragg mirror on a-Si:H strip waveguides is in the range 49-86%.
We measured 0.5-1dB loss per etched mirror section for fundamental transverse electric (TE) and transverse magnetic (TM) modes propagating in SOI rib waveguide.
A setup to measure birefringence in optical waveguides is discussed and its results are analyzed.
Ellipsometry of 260nm thick layer of a-Si:H, deposited by plasma enhanced chemical vapor deposition (PECVD), is done to ascertain the material refractive index.
Spectral behavior of a-Si:H waveguides using a supercontinuum source is also studied.
ED:2008-12-11
INSSI tietueen numero: 36596
+ lisää koriin
« edellinen | seuraava »
INSSI